براي به‌دست آوردن اطلاعات ميکروساختاري از سطح نمونه­های کاتالیست، جاذب و پایه در خطوط تولید کاتالیست  و مواد پیشرفته از ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM, Philips XL30) استفاده میشود. با استفاده از تصاوير SEM مي­توان مورفولوژي سطح کاتاليست و پايه آن، ميزان نحوه‌ي تجمع و اندازه‌ي متوسط ذرات کاتاليست را شناسايي کرد. لازم به‌ذكر است هر چه تجمع کمتر و ذرات به‌صورت لايه­اي باشند مساحت سطح بيشتر مي­شود.

اساس کار اين دستگاه مبتني بر برهم­کنش الکترون با سطح ماده‌ي مورد آناليز مي­باشد که منجر به ايجاد الکترون­هاي ثانويه يا برگشتي مي­شود. در اين آناليز الكترون­هاي ثانويه جهت عكس گرفتن به‌كار مي­روند. روش آماده­ سازي نمونه براي انجام آناليز SEM به اين شرح است که ابتدا مقداري از هر نمونه روي يك نوار كربني (يك پايه از Al) قرار داده شده و سپس آنها با يك لايه رساناي الكتريكي طلا (به ضخامت nm11) پوشيده ميشوند. اين آناليز به صورت مرطوب و در ولتاژ KV15 انجام مي­شود و فاصله سطح نمونه تا انتهاي بيم mm14/11 است.